- Lundi-Vendredi : 8:30 – 20:00
Contexte / problématique
- Système de mesure du Pu, U, Am.
- Chaînes de mesures qualifiées pour le contrôle des crayons.
- Fin des ventes en 2017 et plusieurs modules sans stock disponible.
- Remplacement des systèmes inconcevables sans arrêter la production.
Solution Neos
- Approvisionnement de modules disponibles sur le marché broker.
- Clonage à l’identique (prototypage) des modules non disponibles sur le marché broker.
- Reconstitution des données de fabrication pour les modules clonés.
- Double qualification :
- Sur banc du fabricant d’origine.
- In situ via la rédaction et la mise en œuvre d’un plan de qualification.
- Approvisionnement et stockage longue durée des composants obsolètes en vue des fabrications futures (séries) pour horizon 2040.
- Mise en place d’une veille pour les composants non obsolètes.
- Conception et réalisation d’un banc de test permettant de qualifier les réparations.
La conception et la réalisation du banc de test garantit la maintenabilité du système dans le temps.
Résultat / Bénéfices
- Traitement de l’obsolescence dans un schéma industriel.
- Performance économique MCO VS migration.
Objectif
Pérennisation d'un système de mesure obsolète
Caractéristique
Système critique pour la sécurité de l'industrie
Secteur industriel
Nucléaire
Solutions en gestion d’obsolescence électronique.
- Lundi-Vendredi : 8:30 – 20:00
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